- Viernes, 04 Febrero 2011
PCI-SIG® ha lanzado recientemente la revisión 3.0 de la especificación básica de PCIe. Muchos de los cambios de la especificación de la capa física tienen que ver con garantizar una transmisión de bits adecuada a 8 GT/s en tarjetas PC de bajo coste. En la actualidad, las pruebas del receptor son normativas. En versiones anteriores del estándar, estas pruebas eran puramente informativas.
Los dispositivos que funcionan a 8 GT/s presentan nuevas dificultades de medida, por lo que se necesitan herramientas y procedimientos nuevos para validar correctamente el diseño del receptor. Algunas de estas dificultades son la optimización de la ecualización de transmisión y recepción, el diseño del canal de calibración y la formación de enlace de dispositivos con secuencias de patrones codificados a 128/130 bits. Uno de los requisitos más complicados consiste en introducir un nuevo procedimiento para calibrar las condiciones de esfuerzo de PCIe 3.0 como las interpretaría un receptor de referencia tras aplicar la ecualización. Para llevar a cabo este procedimiento, es necesario que los ingenieros postprocesen las señales medidas en un punto de prueba accesible.
La completa y precisa solución de prueba del receptor PCIe 3.0 de Agilent se basa en el BERT serie de alto rendimiento J-BERT N4903B, el conversor de señales de deénfasis N4916B, el generador de ruido arbitrario con función de pulso 81150A, un osciloscopio Infiniium de alto rendimiento de la Serie 90000 X, nuevos accesorios y el nuevo software de automatización de prueba N5990A.
Las ventajas de la solución de caracterización del receptor PCIe 3.0 de Agilent son:
o Resultados de prueba del receptor precisos y repetibles gracias a un nuevo software de calibración de esfuerzo, deénfasis ajustable de pre y postcursor, jitter compatible con PCIe 3.0 integrado de J-BERT y fuentes de interferencia sinusoidal, nueva función de barrido PJ y nuevos canales de calibración compatibles con PCIe 3.0.
o Mayor eficacia de I+D gracias al nuevo software de calibración de esfuerzo PCIe 3.0 y la nueva familia de formación de enlace PCIe 3.0, que controla el secuenciador de patrón J-BERT para que el dispositivo sometido a prueba pase al modo de bucle de retorno.
o Protección de la inversión gracias al uso de los instrumentos de Agilent, que pueden utilizarse también para la caracterización precisa de múltiples aplicaciones de prueba de gigabits como USB3, SATA3 y QPI.
“La nueva solución de prueba de tolerancia del receptor PCIe 3.0 de Agilent cubre una necesidad esencial de los diseñadores de ASIC y chipsets para que la transición a la nueva generación de PCI Express se realice sin problemas”, afirmó Jürgen Beck, director general de la División de Pruebas Fotónicas Digitales de Agilent. “Sumando nuestra experiencia en calibración precisa del esfuerzo y la tolerancia del receptor, seguimos contribuyendo a que los equipos de I+D produzcan de forma eficaz chipsets robustos de última generación para el sector informático”.
La solución de prueba del receptor PCI Express 3.0 de Agilent está formada por:
o El BERT serie de alto rendimiento J-BERT N4903B con fuentes de jitter calibradas e integradas (jitter aleatorio, jitter de periodo e interferencia sinusoidal de modo diferencial)
o El generador de señales de deénfasis N4916B para generar pre y postcursores precisos y adaptables
o El generador de ruido arbitrario con función de pulso 81150A/81160A para inyectar interferencias sinusoidales de modo común
o Los canales de calibración N4915A-014 PCIe 3.0 para crear unas condiciones del canal compatibles y reproducibles
o El software de prueba del receptor N5990A-101 PCIe con la nueva calibración de esfuerzo PCIe 3.0
o La familia de formación de enlace N5990A-301 PCIe 3.0
o El osciloscopio Infiniium de la Serie 90000 X de 16 a 32 GHz para calibrar el esfuerzo
Agilent mostrará la nueva prueba de caracterización del receptor PCI Express 3.0 en DesignCon 2011 los días 1 y 2 de febrero en el Santa Clara Convention Center, estand 201. Agilent ofrece una amplia selección de soluciones digitales de alta velocidad, así como herramientas esenciales para identificar problemas, optimizar dispositivos y obtener resultados para el diseño y la simulación.
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