Turck ha mejorado la funcionalidad de los módulos de E/S de su serie ultracompacta TBEN-S en forma de una actualización de firmware gratuita. Todas las funciones se configuran a través del software de ingeniería del fabricante del controlador, o alternativamente a través del propio servidor web o del software Pactware. Los dispositivos se pueden usar como antes sin requerir ninguna configuración.
• Funciones extendidas para la detección de señales rápidas 
• Integración en LabVIEW 
• Protección IP67/69K 

Comprende las funciones para filtrado digital, extensión del pulso de detección, función Set/Reset de detección, contadores y PWM. Todas las funciones se configuran a través del software de ingeniería del fabricante del controlador, o alternativamente a través del propio servidor web o del software Pactware. Los dispositivos se pueden usar como antes sin requerir ninguna configuración. 
El filtrado digital permite aumentar el umbral de tiempo desde el cual el módulo detecta una señal de 0,2 a 3 ms. Esto permite reducir aun más la posibilidad de fallos de interpretación; en particular en instalaciones sujetas a severas interferencias electromagnéticas. 
La extensión de detección del pulso se utiliza para alargar las señales tan cortas que pueden cambiar dentro del ciclo del PLC. La función Set/Reset de detección permite que el módulo mantenga la señal hasta que el controlador la registre y la reconozca. 
La función de contador se proporciona en el primer canal de entrada del TBEN-S y está diseñada para frecuencias de hasta 50 kHz. Con las nuevas funcionalidades, las salidas digitales admiten la modulación de ancho de pulso (PWM) con frecuencias de hasta 100 Hz. 

Además, la serie TBEN-S de Turck puede ser integrada en la automatización de bancos de prueba mediante los drivers de integración en LabVIEW sin necesidad de utilizar PLC o controladores extra.
El sitio web de National Instruments ahora ofrece controladores descargables de LabVIEW para los módulos compactos de E/S TBEN-S de Turck. Los nuevos controladores permiten a los usuarios reducir los costes para la automatización de los bancos de pruebas en producción.
Los módulos compactos de E/S TBEN-S2-2RFID-4DXP, TBEN-S2-4AO, TBEN-S2-4AI y TBEN-S1-8DXP pueden reemplazar los sistemas de E/S que se utilizan para la automatización de bancos de pruebas. Ya no se necesita un PLC por separado para controlar los módulos. Gracias a su alta protección IP67/69K, los módulos se pueden instalar en campo.

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