NI ha anunciado una solución de referencia de prueba 5G sub-6GHz que cumple con la especificación 3GPP Release 15 para 5G New Radio (NR). Con despliegues comerciales de 5G NR por debajo de 6 GHz en el horizonte, los ingenieros están desarrollando componentes y dispositivos RF 5GHz 5G. El ritmo acelerado de la estandarización 5G está llegando rápidamente al mercado.

La solución de referencia sub-6GHz 5G NR de NI es una opción de alto rendimiento para pruebas que ayuda a los ingenieros a caracterizar sus diseños y a una transición más fácil desde I+D a entornos de prueba de producción.

La nueva solución de prueba de referencia de NI es muy adecuada para probar nuevas RFIC de banda ancha, especialmente aquellas que funcionan en las bandas de 3.3 a 4.2 GHz y 4.4 a 5.0 GHz. Los ingenieros pueden probar dispositivos funcionando a 400 MHz de ancho de banda de señal continua y más allá con el Transceptor de señal vectorial PXIe-5840 (VST), que incluye 1 GHz de generación de señal instantánea y ancho de banda de análisis de hasta 6 GHz. Con NI VST, la solución ofrece un rendimiento EVM residual mejor al 0,32 por ciento (-50 dB) para señales NR de 100 MHz junto con una velocidad de medición más rápida.

Un componente crítico de esta solución es el software de medición NI-RFmx NR, que ha evolucionado junto con la especificación 3GPP. La última versión del software de medición NI-RFmx NR NR ofrece formas de onda 5G NR y capacidad de medición que cumplen con la primera especificación oficial de 3GPP Release 15 para NR no autónomo, que permite a los ingenieros probar formas de onda agregadas de operadores OFDMA y DFT-s-OFDM con espacio flexible de subcarrier de 15 kHz a 120 kHz.

La nueva tecnología de NI para pruebas 5G también suple una completa gama de productos para pruebas de RF y semiconductores, que incluye software de medición para 2G, 3G, LTE-Advanced Pro, WiFi 802.11ax, Bluetooth 5 y más. Además, los ingenieros pueden usar el NI VST con más de 600 productos PXI modulares, que abarcan de DC a mmWave, para crear sistemas integrales de caracterización de semiconductores y pruebas de fabricación.

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