Anritsu Corporation ha anunciado el lanzamiento de dos actualizaciones para la serie de analizadores de calidad de señal MP1800A que refuerza la oferta de soluciones de prueba para 32 GBaud PAM4 BER. El nuevo convertidor G0375A 32 Gbaud Power PAM4 y el decodificador G0376A 32 Gbaud PAM4 con CTLE, soportan las pruebas de entrada PAM4 y medidas BER definidas en la próxima generación 200GbE / 400GbE y normativa CEI-56G.

Con el fin de abordar la necesidad de velocidades de comunicaciones más rápidas entre los servidores y los dispositivos de red, el estándar Ethernet 200GbE / 400GbE de próxima generación no sólo depende de velocidades de símbolos más rápidos y de múltiples canales, sino que también está usando PAM (Pulse Amplitude Modulation) para aumentar la velocidad de transmisión. A medida que se desarrolla la próxima generación de estándares de comunicación PAM4, una solución de prueba de integridad de señal con generación de BER de 32 Gbaud PAM4 de alta amplitud y medición de BER de alta calidad y precisión, desempeñará un papel importante.

El analizador de calidad de señal MP1800A es un equipo modular conectable de prueba BERT (Bit Error Rate Tester), que soporta la medición de interfaces de banda ancha multicanal de hasta 64 Gbit / s. Los nuevos G0375A y G0376A son cabezales remotos para añadir a la serie MP1800A 32G PPG / ED para ampliar el soporte de medición para mediciones PAM4 usando instrumentos de medición NRZ.

La combinación del G0375A con el MU183020A 28G / 32Gbit / s PPG convierte dos señales NRZ de 32 Gbit / s para emitir una señal PAM4 de alta amplitud de 4,4 Vp-p (diferencial, máx.). Además, la función de sincronización 3ch PPG para el control independiente de las amplitudes de señal PAM4 3Eye permite la evaluación de alta reproducibilidad de los moduladores ópticos, sin utilizar un amplificador conductor externo.

Con las funciones de decodificación PAM4 y CTLE incorporadas, el G0376A soporta la medición de señales binarias decodificadas PAM4 utilizando el MU183040B 28G / 32Gbit / s de alta sensibilidad. Además, la combinación con la función CTLE soporta pruebas de rendimiento de alta eficiencia y sensibilidad a la entrada.

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